Microscópio de Força Atômica FM-Nanoview 1000 AFM

Cabeça de varredura e estágio de amostra são projetados juntos, forte desempenho antivibração;Detecção de laser de precisão e dispositivo de alinhamento de sonda tornam o ajuste do laser simples e fácil;Adapte o servomotor para acionar a ponta de aproximação da amostra manualmente ou automaticamente, para realizar o posicionamento preciso da área de varredura;Alta- precisão e dispositivo de transferência de amostra de grande alcance permitem digitalizar qualquer área interessante da amostra;Sistema de observação óptica para verificação da ponta e posicionamento da amostra;Sistema eletrônico é projetado como modular e fácil para manutenção e desenvolvimento;Adote mola para isolamento de vibração, simples e bom desempenho .

Programas

1. Dois tipos de pixel de amostragem para escolher: 256×256, 512×512;

2. Execute a função de movimento e corte da área de varredura, escolha qualquer área de amostra interessante;

3. Digitalize a amostra em ângulo aleatório no início;

4. Ajuste o sistema de detecção de pontos a laser em tempo real;

5. Escolha e defina cores diferentes da imagem de digitalização na paleta.

6. Suporte a calibração linear média e offset em tempo real para o título da amostra;

7. Apoiar a calibração da sensibilidade do scanner e auto-calibração do controlador eletrônico;

8. Suporte a análise offline e processo de imagem de amostra.

Principais parâmetros técnicos