FM-Nanoview 6800 AFM Atomic Force Microscope

Design tudo-em-um, estrutura e forma inteligentes. Cabeça de varredura e estágio de amostra são projetados juntos, forte desempenho anti-vibração. Detecção de laser de precisão e dispositivo de alinhamento de sonda tornam o ajuste do laser simples e fácil. ou automaticamente, para realizar o posicionamento da área de digitalização de precisão. O dispositivo de transferência de amostra de alta precisão e grande alcance permite digitalizar qualquer área de amostra interessante; Diferentes tipos de scanner atendem a diferentes requisitos do cliente em precisão e tamanho de digitalização; sistema de observação óptica para verificação de ponta e amostra sistema de observação de posicionamento.CCD para observação e posição de área de amostra em tempo real;Use servomotor para obter auto-focagem CCD O sistema eletrônico é projetado como modular e fácil para manutenção e desenvolvimento.Integrado com muitos modos de trabalho controlam a eletrônica para um maior desenvolvimento.

Software e funções fáceis de usar

1. As imagens multicanais são capturadas e exibidas de forma síncrona, observam o mapa de perfil em tempo real.

2. Obtenha e meça muitas curvas, como F-Z, f-RMS, RMS-Z

3.Execute a função de movimento e corte da área de varredura, escolha qualquer área de amostra interessante.

amostra 4.Scan em ângulo aleatório no início.

5. Ajuste o sistema de detecção de ponto a laser em tempo real.

6. Pesquise a frequência de ressonância da ponta manualmente ou automaticamente.

7. Escolha e defina cores diferentes da imagem de digitalização na paleta.

8. Suporta calibração linear média e offset em tempo real para o título da amostra.

9. Apoie a calibração da sensibilidade do scanner e a calibração automática do controlador eletrônico.

Principais parâmetros técnicos