Brand:NANBEI
Model:NU-T1810/NU-T1810A
Application:
ESPECTROFOTÔMETRO UV/VIS UV/VIS de feixe dividido da série T1810
Características dos Produtos
● Alta precisão: Usando a chave de fenda de precisão de nível de micrômetro de grade para garantir a precisão do comprimento de onda < ± 0,3 nm ; A transmissão de precisão atinge ± 0,3%.
● Conveniência de uso: display LCD gráfico de 5,7 polegadas. A curva do espectro seja clara de relance e fácil de operar. Há análise quantitativa, análise qualitativa, teste de cinética, DNA/RNA, análise multi-comprimento de onda no programa de teste de propósito especial.
● Vida útil durável: A lâmpada de halogênio importada garante a fonte de luz por até dois anos de vida útil, vida útil do receptor por 20 anos.
●Amplos campos de aplicação: Opcional Equipado com unidade Peltier/sipper, com suporte para microcélula, com (ângulo de incidência de 5°) acessório de medição de refletância etc. expande as áreas de aplicação de mais.
Função dos produtos
●Medição fotométrica: Conveniência para medir amostras na absorbância e transmitância do comprimento de onda especificado. O detector de múltiplos comprimentos de onda é a determinação simultânea máxima de 10 comprimentos de onda.
● Medição quantitativa: Estabeleça automaticamente a curva padrão, primeira ordem \ primeiro depois de pedir o ajuste da curva de terceira ordem. Método opcional: Calibração de comprimento de onda único、Calibração de comprimento de onda duplo、Método de três pontos,
● Medição qualitativa: Incluindo dimensionamento, suavização, filtragem, detecção de pico-vale etc.
●Medição cinética: Calcule a cinética da taxa de reação enzimática. Há
Model | NU-T1810 | NU-T1810A |
Optical System | Split beam, Littrow,Grating 1200 line/mm | |
Wavelength Range | 190~1100nm | |
Spectral Bandwidth | 1.8nm | 1nm |
Wavelength Accuracy | ±0.3nm | |
Wavelength Repeatability | ±0.1nm | |
Photometric Accuracy | ±0.3%T;±0.002Abs(0~0.5Abs);±0.004(0.5-1.0Abs); | |
Photometric Repeatability | ±0.1%T;±0.001Abs(0~0.5Abs);±0.002(0.5-1.0Abs); | |
Stray Light | ≤0.05%T, @220nm/360nm | |
Noise Level | ±0.0015Abs | |
Stability | ±0.0015A/h@500nm | |
Baseline Flatness | ±0.0015Abs | |
Baseline Dark Noise | 0.1%T | |
Photometric Range | 0~200℅T,-4~4A,0~9999C(0-9999F) | |
Light Source | Tungsten&Deuterium Lamp(Pre-aligned) | |
Scan Speed | Hi,MED.,LOW.,MAX.3600nm/min |